丹沢 徹 教授（工学領域 電気電子工学系列）がSymposium on VLSI Technology and Circuitsにて"2023 VLSI Test of Time Award"を受賞
2023/06/21
受賞・表彰（教員）
丹沢 徹 教授（工学領域 電気電子工学系列）が、Symposium on VLSI Technology and Circuitsにて "2023 VLSI Test of Time Award" を受賞しました。
"Test of Time Award"はVLSI Symposiumによる賞で、時の試練（Test of Time）に耐え歴史にその名を刻んだ論文を表彰するものです。
10年以上前に当該シンポジウムで発表され、この分野に永続的な影響を与えた論文（「テクノロジ」と「回路」の分野から毎年各１件）が表彰されています。
https://www.vlsisymposium.org/test-of-time-award/
受賞対象論文："A CMOS Band-Gap Reference Circuit with Sub 1V Operation"
Symposium on VLSI Technology and Circuits HP：
https://www.vlsisymposium.org/
丹沢研究室 HP：
https://wwp.shizuoka.ac.jp/tanzawa-lab/
表彰楯
受賞した丹沢教授（右から３人目）
